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涂层测厚仪AH220,上海涂层测厚仪AH220 |
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涂层测厚仪AH220,上海涂层测厚仪AH220 |
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涂层测厚仪AH220,上海涂层测厚仪AH220的详细资料: |
涂层测厚仪AH220,上海涂层测厚仪AH220 该仪器采用磁性测量方法,可无损地检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)

技术参数: | AH 220 | 测头类型 | F1 | 工作原理 | 磁感应 | 测量范围 | 0~1250μm | 低限分辨率 | 0.1μm | 示值误差 | 一点校准 | ±(3%H+1) | 二点校准 | ±[(1~3%)H+1] | 测试条件 | zui小曲率半径mm | 凸1.5 | zui小面积直径mm | Φ7 | 基本临界厚度mm | 0.5 | 工作环境 | 温度 | 0~40℃ | 湿度 | 20%~90% | 磁场 | 无强磁场环境 | 电源 | AAA型碱性电池1.5V两节 | 外形尺寸 | 115×70×30mm(主机) | 重量 | 130g |
选用探头的技术数据 探头 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | 测量原理 | 磁性 | 涡流 | | 测量范围(μm) | 0~400 | 0~1250 | 0~10mm | 0~400 | 0~12500 | 10~200 | 测量精度μm | 一点校准 | ±[(1~3)%H+0.7] | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | 二点校准 | ±(1~3%H+0.7) | ±[(1~3)%H+1] | ±[(1~3)%H+10] | ±[(1~3)%H+1] | ±[(1~3)%H+1.5] | --- | 低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | zui小曲率半径(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 仅为平面 | zui小面积直径(mm) | ¢3 | ¢7 | ¢40 | ¢4 | ¢5 | ¢7 | 基本临界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 无限制 |
测头选用参考表 覆盖层基体 | 有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等) | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 如铁、钢等磁性金属 | 被测面积直径大于30mm | F400型测头0~400μm F1型测头 0~1250μm | F1型测头 0~1250μm F10型测头 0~10μm | F400型测头0~400μm F1型测头 0~1250μm | F1型测头 0~1250μm F10型测头 0~10μm | 被测面积直径小于30mm | F400型测头0~400μm | F400型测头0~400μm F1型测头 0~1250μm | F400型测头0~400μm | F400型测头0~400μm F1型测头 0~1250μm | 如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属 | 被测面积直径大于10mm | N1型测头0~1250μm N400测头0~400μm | 仅用于铜上镀铬N1型测头0~40μm N400测头0~40μm |
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